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超高純度フルオロポリマー・ダイヤフラム・バルブ DRPシリーズ 技術情報 概要
この情報は、DRPシリーズ・バルブに対し、第三者機関とスウェージロックが行ったテストの要約です。DRPバルブは主に、製品の純度と信頼性が非常に重要である半導体業界において、重要な液体管理を行うために使用することを主たる目的として設計されています。この情報に記載されている報告データとテスト・プロトコルは、SEMI F57-0301 に基づいています。この情報は、以下の項目について記述しています。■ パーティクル発生/■ 表面粗さ/■ イオン性コンタミネーション/■ 金属性コンタミネーション/■ 総有機性炭素(TOC)量/■ 超純水、HCl、スラリーを用いた信頼性テスト
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減圧レギュレーターの流量曲線 技術資料
本技術資料では、減圧レギュレーターの流量曲線の読み取り方 (概要)について記載しています。また、複雑な現象[ドループ(流量増加に伴う二次側圧力の降下)、シート・ロード・ドロップまたはロックアップ、チョーク流量、ヒステリシス(回帰性)、供給圧力影響(SPE、別名:依存性)]などについて紹介しています。
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標準のクリーニングおよびパッケージング Swagelok SC-10仕様 仕様書SCS-00010 改訂B
Swagelok 仕様書SC-10は、Swagelok製品の標準品に対するクリーニング、潤滑剤、アセンブリー、パッケージングに関する要件を規定するもので、これらの要件を満たすための方法について詳述しています。このSC-10は基本的な産業用手順について記載しています。システム設計者およびユーザーは、この仕様書を検討し、ユーザーのクリーニング要件に適合するかどうかを決定してください。
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ベローズ・シール・バルブ BNシリーズ 技術情報
この技術情報は、Swagelokベローズ・シール・バルブ BNシリーズに関するデータです。以下の事項について記載しています。■ 表面仕上げ/■ パーティクル・カウント/■ 水分分析/■ 炭化水素分析/■ 残留イオン濃度/■ 実験室でのサイクル・テスト
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ベローズ・シール・バルブ HBシリーズ 技術情報
この技術情報は、Swagelokベローズ・シール・バルブ HBシリーズに関するデータです。以下の事項について記載しています。■ 表面仕上げ/■ パーティクル・カウント/■ 水分分析/■ 炭化水素分析/■ 残留イオン濃度/■ 実験室でのサイクル・テスト
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ダイヤフラム・バルブ DLシリーズ DSシリーズ 技術情報
この技術情報は、Swagelokダイヤフラム・バルブ DL/DSシリーズに関するデータです。以下の事項について記載しています。■ 表面仕上げ/■ パーティクル・カウント/■ 水分分析/■ 炭化水素分析/■ 残留イオン濃度
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ダイヤフラム・バルブ DPシリーズ 技術情報
この技術情報は、Swagelokダイヤフラム・バルブ DPシリーズに関するデータです。以下の事項について記載しています。■ 表面仕上げ/■ インボード・ヘリウム・リーク・テスト/(真空法)/■ パーティクル・カウント/■ 水分分析/■ 炭化水素分析/■ 残留イオン濃度/■ 実験室でのサイクル・テスト